Phenom XL G3 是飛納推出的大倉室臺式掃描電鏡，可用于醫(yī)用材料表面形貌分析，幫助觀察材料表面結(jié)構(gòu)、孔隙和缺陷。

Phenom XL G3 平均成像時間約 40 秒，可對最大 100 x 100 mm 的樣品進(jìn)行分析，適合較大尺寸樣品或多樣品檢測場景。設(shè)備采用 CeB6 燈絲，電子光學(xué)放大倍數(shù)可達(dá) 200,000 X，分辨率優(yōu)于 8 nm，適用于日常質(zhì)檢、研發(fā)分析、失效分析和樣品測試等應(yīng)用。

該產(chǎn)品具備大倉室樣品臺、低/中/高三種真空模式、背散射探測器，并可根據(jù)需求選配二次電子探測器和能譜探測器。具體配置和價格根據(jù)型號、功能及應(yīng)用需求確定，可通過平臺詢價/留言入口獲取選型建議，并預(yù)約試樣。

產(chǎn)品特點(diǎn)：

1. 大倉室設(shè)計，可分析最大 100 x 100 mm 樣品。

2. 平均成像時間約 40 秒，適合多樣品觀察和日常檢測。

3. 電子光學(xué)放大倍數(shù)可達(dá) 200,000 X，分辨率優(yōu)于 8 nm。

4. 采用 CeB6 燈絲，使用壽命優(yōu)于 3000 小時。

5. 支持低、中、高三種真空模式，適合多類材料樣品。

6. 標(biāo)配背散射探測器，可選配二次電子探測器和能譜探測器。

7. 臺式設(shè)計，適合實(shí)驗(yàn)室日常部署與使用。

8. 支持選型咨詢，可預(yù)約試樣。